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CNR: Alamanacco della Scienza

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N. 4 - 22 apr 2015
ISSN 2037-4801

Vita CNR   a cura di Francesca Gorini

Tecnologia

Il saliscendi della tecnologia

Prevedere il successo di un prodotto tecnologico è di fondamentale importanza per definire le strategie industriali e commerciali più appropriate. Uno studio del Cnr pubblicato su 'Scientometrics’, a cura di Ruggero Vaglio (Spin-Cnr) e Marco Campani (Spin, Nano e Iom), sviluppa un modello teorico per descrivere l’impatto di una tecnologia basandosi sulle 'curve di Hype’ o curve di popolarità, rappresentazioni grafiche che delineano l’evoluzione e l’utilizzo di una tecnologia in funzione del tempo.

Secondo questo approccio, il ciclo di vita di una nuova tecnologia si può riassumere in cinque differenti stadi, paragonabili alla più classica delle storie d’amore. “Esattamente come accade nelle coppie, all’inizio prevalgono entusiasmo, euforia: è il 'technology trigger’, cioè il momento in cui la scoperta suscita un immediato interesse, tanto nella comunità scientifica quanto nei mass media; da qui si innesca il processo che porterà allo sviluppo commerciale”, spiega Ruggero Vaglio (Spin-Cnr). “Alla crescita di attenzione fa riscontro l’aumento degli studi e delle pubblicazioni sull’argomento, la curva sale fino a raggiungere il picco massimo di aspettativa, quindi ha inizio la parabola discendente, la 'valle della disillusione’, quando, cioè, l’insieme di conoscenza o esperimenti prodotti sull’argomento raggiunge una naturale saturazione. Ciò nonostante, la tecnologia continuerà il suo percorso di sviluppo passando attraverso il 'pendio dell’illuminazione’, cioè la 'ripresa’ resa possibile dai continui miglioramenti applicativi, fino a trovare il suo momento di massima maturità nella fase dell’equilibrio finale, che graficamente è rappresentato da una linea retta, senza salite né discese”.

Lo studio ha preso in esame il caso degli Oled, i diodi organici in grado di emettere luce destinati a rivoluzionare la tecnologia di display e pannelli luminosi. “Abbiamo focalizzato l’attenzione su una tecnologia recente ma non troppo, con l’obiettivo di cercare un riscontro sperimentale della curva di Hype basandoci su indicatori bibliometrici”, aggiunge il coautore Marco Campani. “In particolare, abbiamo messo a confronto il numero complessivo di pubblicazioni scientifiche sull’argomento e il numero di brevetti rilevati attraverso i maggiori database mondiali: ne è emersa una rappresentazione grafica molto coerente, che conferma l’affidabilità delle curve di popolarità. Sebbene ampiamente utilizzate per la predizione del successo di prodotti tecnologici, infatti, finora non esistevano prove sperimentali nè un modello teorico a conferma della validità scientifica di tali curve”. 

Anche la tecnologia degli Oled, quindi, si è sviluppata secondo un percorso preciso: un picco iniziale di studi di base a cui è seguita, con un gap temporale di alcuni anni, la fase 'tecnologica’, rilevabile dal numero di pubblicazioni di natura applicativa e brevetti depositati. “Il modello, che rivisita quelli già ampiamente utilizzati per lo sviluppo dei virus, prefigura anche cosa accadrà nel prossimo futuro: il tasso di deposito dei brevetti, ad esempio, nel giro di pochi anni tenderà ancora a crescere quindi a 'stabilizzarsi’: sarà il segno della raggiunta maturità della tecnologia”, aggiunge Vaglio.  “Oltre a confermare la validità di un approccio spesso già utilizzato come strategia di marketing dall’industria high-tech e che oggi trova applicazione anche in altri ambiti quale quello della psicologia, il nostro lavoro intende fornire uno strumento a disposizione della comunità scientifica e dei ricercatori, per consentire loro di valutare meglio e ottimizzare le proprie performance bibliometriche”.

Fonte: Marco Campani, Ufficio di supporto TA agli Istituti Spin, Nano e Iom , email marco.campani@spin.cnr.it - Ruggero Vaglio, Spin-Cnr , email vaglio@na.infn.it -

Per saperne di più: A simple interpretation of the growth of scientific/technological research impact leading to hype-type evolution curves , Scientometrics, Vol. 103, pp. 75-83 (2015) -